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激光干涉儀 GBM08A POWER值測試


光干涉透射法檢測元件厚度差的原理

在激光干涉儀進行透射測量時,激光光源發出的單色光,垂直向下經過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋,每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差。當光程差為nλ+0.5λ時,顯示為暗條紋;當光程差為nλ+λ時,顯示為亮條紋;

所以,當被檢元件的兩個面不完全平行,存在楔角時,沿楔角方向,元件的厚度逐漸增大,相應的光程差也逐漸變大,沿楔角方向就會產生間隔分布亮暗條紋。楔角越大,條紋越密集。

檢測指標的簡單說明:

PV值在數學上的定義是峰谷值( Peak to Valley),即最大值和最小值的差值。單位是λ(波長)對應到干涉儀透射檢測上,就是被檢元件的厚度差。 

RMS值在數學上的定義是均方根值(root-mean-square),單位是λ(波長),這是一個統計值,RMS的大小反映了這些數據值的離散程度。對應到干涉儀透射檢測上,RMS值越小表明被檢元件的厚度平滑性越好,高低起伏越少。

條紋根數是肉眼可見的被檢元件厚度差的直觀表現,與PV值成線性關系。條紋根數越少表明被檢元件的厚度差越小。


激光干澀儀參數:

序號

名稱

GBM08A

1

測量原理

菲索干涉原理

2

激光器

半導體激光器 635nm 940nm

3

有效孔徑

30mm   (允許同時管控8個孔)

4

標準鏡面形精度

0.05λ

5

面形值重復精度

PV 0.06λ(標準片)

6

面形值量程

PV 0~3λ

7

測試時間

PV測試:1秒;條紋數測試:1秒內

8

夾具

9

軟件

PVmeter

10

電源

220V 60W

11

通訊接口

USB

12

重量

15Kg

13

自動化接口

預留

 激光干涉儀GBM08A主要用于手機攝像頭的干涉條紋測試,

可測試635nm和940nm雙波段,

同時可以管控8個測試孔,測試速度快,數據準確度高,

而且機器配備防震動干擾設施,使得機器不受外界條件干擾,測試數據更加真實可靠,

是您測試手機攝像頭的不二選擇。

 

激光干澀儀

 



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